| Индекс УДК | 537.533.35 |
|
Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент Текст |
|
| Другие авторы | Стукалов, О. М. |
|
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г. Минск: Издат. центр БГУ, 2002 С. 69-72 |
