| Маркер записи | n 22 7 4500 |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/454154225 |
| Дата корректировки | 9:57:05 23 мая 2014 г. |
| 539.234 | |
|
5588н.о. 5588н.о. |
|
|
001 2 41-04 |
|
|
Исследование локальных фотоэлектронных свойств наноструктурированных тонких пленок методами фотоассистированной сканирующей зондовой микроскопии Отчет о НИР (заключ.) БГТУ;Руководитель Почтенный А.Е..-ГР20021504 |
|
|
Минск 2004 |
|
| 52с | |
|
зондовая микроскопия лазерное распыление металлфталоцианины наноструктурированные тонкие пленки перилен сканирующая микроскопия туннелирование фотоассистирование фотоэлектронные свойства |
|
| 269 |
