Исследование локальных фотоэлектронных свойств наноструктурированных тонких пленок методами фотоассистированной сканирующей зондовой микроскопии Отчет о НИР (заключ.) БГТУ;Руководитель Почтенный А.Е..-ГР20021504 |
|
Минск 2004 |
|
52с |