Исследование локальных фотоэлектронных свойств наноструктурированных тонких пленок методами фотоассистированной сканирующей зондовой микроскопии
Исследование локальных фотоэлектронных свойств наноструктурированных тонких пленок методами фотоассистированной сканирующей зондовой микроскопии, Отчет о НИР (заключ.), БГТУ;Руководитель Почтенный А.Е..-ГР20021504
Минск, 2004
52с