Поиск

Технология получения и электрофизические свойства тонких пленок материалов системы Ge-Sb-Te, предназначенных для устройств фазовой памяти

Авторы: Лазаренко, Петр Иванович
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/477660835
Дата корректировки 10:08:08 23 февраля 2015 г.
Цена, тираж б. ц.
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.382.049.772.1(043.3)
Лазаренко, Петр Иванович
Технология получения и электрофизические свойства тонких пленок материалов системы Ge-Sb-Te, предназначенных для устройств фазовой памяти
Текст
автореф. дис. ... канд. технических наук : 05.27.06
[Национальный исследовательский университет "МИЭТ"]
Место издания Москва
Дата издания 2014
Объем 28 с.
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Ключевые слова тонкие пленки
технология получения тонких пленок
электрофизические свойства тонких пленок
устройства фазовой памяти
цифровые устройства
фазовая память
Организация/ юрисдикция Национальный исследовательский университет "МИЭТ"