Поиск

Комплекс для неразрушающего контроля субмикронной топологии кремниевых пластин при производстве интегральных микросхем

Авторы: Чижик, С. А. Басалаев, С. П. Пилипенко, В. А. Худолей, А. Л. Кузнецова, Т. А. Чикунов, В. В. Суслов, А. А.
Подробная информация
Индекс УДК 53.083.91
Комплекс для неразрушающего контроля субмикронной топологии кремниевых пластин при производстве интегральных микросхем
Текст
Другие авторы Басалаев, С. П.
Приборы и методы измерений
2013
№ 1. - С. 14-18