Поиск

Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии

Авторы: Воропай, Е. С. Ермалицкий, Ф. А. Ермалицкая, К. Ф.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/383846601
Дата корректировки 20:40:48 13 октября 2015 г.
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 533.9.082:533.922:533.924:621.373.8
Воропай, Е. С.
Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии
Текст
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 6 назв.
защитные покрытия
микронные покрытия
режущие инструменты
сверлильные инструменты
двухимпульсная спектроскопия
лазерная спектроскопия
атомно-эмиссионная спектроскопия
Другие авторы Ермалицкий, Ф. А.
Ермалицкая, К. Ф.
Вестник БГУ. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика
2012
№ 1. - С. 21-24
Тип документа b