| Индекс УДК | 533.9.082:533.922:533.924:621.373.8 |
|
Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии Текст |
|
| Другие авторы | Ермалицкий, Ф. А. |
|
Вестник БГУ. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика 2012 № 1. - С. 21-24 |
