Поиск

Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии

Авторы: Воропай, Е. С. Ермалицкий, Ф. А. Ермалицкая, К. Ф.
Подробная информация
Индекс УДК 533.9.082:533.922:533.924:621.373.8
Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии
Текст
Другие авторы Ермалицкий, Ф. А.
Вестник БГУ. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика
2012
№ 1. - С. 21-24