Поиск

Пластичные полупроводниковые твердые растворы Ag[2]S-Ag[2]Se

Авторы: Тверьянович, Ю. С. Смирнов, Е. В. Тверьянович, А. С. Глумов, О. В. Толочко, О. В. Касаткин, И. А. Томаев, В. В. Абрамович, А. А.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер phcs24_to50_no5_ss453_ad1
Дата корректировки 11:16:53 28 февраля 2025 г.
Кодируемые данные 250221s2024||||RU|||||||||||#||||# rus0|
Системный контрольный номер RUMARS-phcs24_to50_no5_ss453_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. БГТУ
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 621.382
666.113.32
Индекс ББК 32.852
35.43
Таблицы для массовых библиотек
Таблицы для массовых библиотек
Тверьянович, Ю. С.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета
070
Пластичные полупроводниковые твердые растворы Ag[2]S-Ag[2]Se
Ю. С. Тверьянович, Е. В. Смирнов, А. С. Тверьянович [и др.]
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Текст
непосредственный
Библиография Библиогр.: с. 462-463 (20 назв. )
Аннотация Изучены полупроводниковые твердые растворы в системе Ag[2]S-Ag[2]Se. Показано, что моноклинные твердые растворы на основе Ag[2]S имеют пластичность, превышающую пластичность сульфида и селенида серебра. Продемонстрирована возможность получения из них холодной прокаткой проволоки и фольги. Изучены концентрационные зависимости оптической ширины запрещенной зоны и коэффициента Зеебека. Показано, что интенсивная деформация (холодная прокатка) не приводит к изменению параметров температурных зависимостей электропроводности.
Унифицированное заглавие (доб. предм. запись) Topas 5. 0 (Bruker) (программное обеспечение)
AR-MARS
Радиоэлектроника
AR-MARS
Полупроводниковые приборы
AR-MARS
Химическая технология
AR-MARS
Стекло и стеклоизделия
AR-MARS
Ключевые слова гидростатическое взвешивание
Грюнайзена параметр
Зеебека коэффициент
импедансная спектроскопия
коэффициент Зеебека
коэффициент Пуассона
микротвердость по Виккерсу
модуль Юнга
оптическое поглощение
параметр Грюнайзена
пластичные полупроводники
полупроводники пластичные
полупроводниковая проволока
полупроводниковая фольга
проволока полупроводниковая
Пуассона коэффициент
рентгенофазовый анализ
твердые растворы
фольга полупроводниковая
халькогениды серебра
Юнга модуль
Смирнов, Е. В.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета
070
Тверьянович, А. С.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета
070
Глумов, О. В.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета
070
Толочко, О. В.
Санкт-Петербургский политехнический университет
070
Касаткин, И. А.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета
070
Томаев, В. В.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета; Санкт-Петербургский технологический институт
070
Абрамович, А. А.
Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета
070
ISSN 0132-6651
Название источника Физика и химия стекла
Место и дата издания 2024
Прочая информация Т. 50, № 5. - С. 453-463
RU
22013539
20250221
RCR
RU
22013539
20250221
RU
AR-MARS
20250221
RCR
RU
AR-MARS
20250221
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
phcs
2024
50
5
453
1
14889