Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | opsp24_to132_no9_ss891_ad1 |
Дата корректировки | 10:23:37 31 января 2025 г. |
Кодируемые данные | 250115s2024||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
10. 61011/OS. 2024. 09. 59185. 6959-24 DOI |
|
Системный контрольный номер | RUMARS-opsp24_to132_no9_ss891_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого МАРС |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
rus rus |
Индекс УДК | 535.33 |
Индекс ББК | 22.344 |
Таблицы для массовых библиотек | |
Белов, А. Г. Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) 070 |
|
Сравнение результатов оптических и электрофизических измерений концентрации электронов проводимости в образцах n-InSb А. Г. Белов, Е. В. Молодцова, Н. Ю. Комаровский [и др.] |
|
Объем | 1 файл (112 Кб) |
Текст | |
электронный | |
Примечание | Загл. с титул. экрана |
Библиография | Библиогр.: с. 894 (10 назв.) |
Аннотация | Исследованы спектры инфракрасного отражения монокристаллических образцов n-InSb, легированных теллуром, при комнатной температуре. С помощью дисперсионного анализа получены спектральные зависимости действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости и построена функция потерь. Определены значения характеристического волнового числа, отвечающего высокочастотной плазмон-фононной моде и вычислены значения оптической концентрации электронов Nopt. На тех же образцах выполнены электрофизические измерения по методу Ван дер Пау при комнатной температуре и определены значения холловской концентрации NHall. Показано, что для всех исследованных образцов оптическая концентрация превышает холловскую. Высказано предположение, что приповерхностные слои образцов обогащены свободными электронами. Оценена толщина приповерхностного слоя образца, в котором формируется отраженный световой сигнал, и показано, что она не превышает 1 mum. |
Примеч. о целев. назн. | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS |
|
Ключевые слова |
монокристаллы электроны проводимости концентрация электронов проводимости электрофизические измерения оптические измерения спектры отражения плазмон-фононное взаимодействие дисперсионный анализ легирование теллуром |
Молодцова, Е. В. Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) 070 Комаровский, Н. Ю. Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) ; Национальный исследовательский технологический университет "МИСИС" 070 Кладова, Е. И. Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) 070 Козлов, Р. Ю. Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) ; Национальный исследовательский технологический университет "МИСИС" 070 Журавлёв, Е. О. Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) ; Национальный исследовательский технологический университет "МИСИС" 070 Климин, С. А. Институт спектроскопии РАН 070 Новикова, Н. Н. Институт спектроскопии РАН 070 Яковлев, В. А. Институт спектроскопии РАН 070 |
|
ISSN | 2782-6694 |
Название источника | Оптика и спектроскопия |
Место и дата издания | 2024 |
Прочая информация | Т. 132, № 9. - С. 891-894 |
RU 19013582 20250115 RCR |
|
RU 19013582 20250115 |
|
RU AR-MARS 20250123 RCR |
|
RU AR-MARS 20250123 |
|
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=78996680 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
opsp 2024 132 9 891 1 |
|
13761 | |
Спектроскопия конденсированного состояния | |
drc cu | |
uabc | |
html |