Поиск

Сравнение результатов оптических и электрофизических измерений концентрации электронов проводимости в образцах n-InSb

Авторы: Белов, А. Г. Молодцова, Е. В. Комаровский, Н. Ю. Кладова, Е. И. Козлов, Р. Ю. Журавлёв, Е. О. Климин, С. А. Новикова, Н. Н. Яковлев, В. А.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер opsp24_to132_no9_ss891_ad1
Дата корректировки 10:23:37 31 января 2025 г.
Кодируемые данные 250115s2024||||RU|||||||||||#||||# rus0|
10. 61011/OS. 2024. 09. 59185. 6959-24
DOI
Системный контрольный номер RUMARS-opsp24_to132_no9_ss891_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 535.33
Индекс ББК 22.344
Таблицы для массовых библиотек
Белов, А. Г.
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина)
070
Сравнение результатов оптических и электрофизических измерений концентрации электронов проводимости в образцах n-InSb
А. Г. Белов, Е. В. Молодцова, Н. Ю. Комаровский [и др.]
Объем 1 файл (112 Кб)
Текст
электронный
Примечание Загл. с титул. экрана
Библиография Библиогр.: с. 894 (10 назв.)
Аннотация Исследованы спектры инфракрасного отражения монокристаллических образцов n-InSb, легированных теллуром, при комнатной температуре. С помощью дисперсионного анализа получены спектральные зависимости действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости и построена функция потерь. Определены значения характеристического волнового числа, отвечающего высокочастотной плазмон-фононной моде и вычислены значения оптической концентрации электронов Nopt. На тех же образцах выполнены электрофизические измерения по методу Ван дер Пау при комнатной температуре и определены значения холловской концентрации NHall. Показано, что для всех исследованных образцов оптическая концентрация превышает холловскую. Высказано предположение, что приповерхностные слои образцов обогащены свободными электронами. Оценена толщина приповерхностного слоя образца, в котором формируется отраженный световой сигнал, и показано, что она не превышает 1 mum.
Примеч. о целев. назн. Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Физика
AR-MARS
Спектроскопия
AR-MARS
Ключевые слова монокристаллы
электроны проводимости
концентрация электронов проводимости
электрофизические измерения
оптические измерения
спектры отражения
плазмон-фононное взаимодействие
дисперсионный анализ
легирование теллуром
Молодцова, Е. В.
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина)
070
Комаровский, Н. Ю.
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) ; Национальный исследовательский технологический университет "МИСИС"
070
Кладова, Е. И.
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина)
070
Козлов, Р. Ю.
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) ; Национальный исследовательский технологический университет "МИСИС"
070
Журавлёв, Е. О.
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (АО "Гиредмет" им. Н. П. Сажина) ; Национальный исследовательский технологический университет "МИСИС"
070
Климин, С. А.
Институт спектроскопии РАН
070
Новикова, Н. Н.
Институт спектроскопии РАН
070
Яковлев, В. А.
Институт спектроскопии РАН
070
ISSN 2782-6694
Название источника Оптика и спектроскопия
Место и дата издания 2024
Прочая информация Т. 132, № 9. - С. 891-894
RU
19013582
20250115
RCR
RU
19013582
20250115
RU
AR-MARS
20250123
RCR
RU
AR-MARS
20250123
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=78996680
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
opsp
2024
132
9
891
1
13761
Спектроскопия конденсированного состояния
drc cu
uabc
html