Поиск

Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Авторы: Бельков, М. В. Борисевич, Д. А. Кацалап, К. Ю. Ходасевич, М. А.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер opsp22_to130_no10_ss1611_ad1
Дата корректировки 8:54:29 28 декабря 2022 г.
Кодируемые данные 221206s2022||||RU|||||||||||#||||# rus0|
10. 21883/OS. 2022. 10. 53634. 3895-22
DOI
Системный контрольный номер RUMARS-opsp22_to130_no10_ss1611_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 535.33
Индекс ББК 22.344
Таблицы для массовых библиотек
Бельков, М. В.
Институт физики НАН Беларуси
070
Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии
М. В. Бельков, Д. А. Борисевич, К. Ю. Кацалап, М. А. Ходасевич
Объем 1 файл (213 Кб)
Текст
электронный
Примечание Загл. с титул. экрана
Библиография Библиогр.: с. 1616 (27 назв.)
Аннотация По эмиссионным спектрам низкого разрешения (190-440 nm, разрешение 0. 4 nm, шаг по спектру 0. 1 nm) разработаны многопараметрические модели калибровки концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu методом частичных наименьших квадратов в выборках, содержащих от 31 до 39 эталонов низколегированных сталей. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных: метод ранжирования спектральных переменных по их коэффициенту корреляции с величиной искомого параметра, алгоритм последовательного проецирования и оригинальная модификация метода поиска комбинации движущихся окон. Модель частичных наименьших квадратов с выбором спектральных переменных методом поиска комбинации движущихся окон для C является количественной: среднеквадратичное отклонение 0. 004%, остаточное отклонение в проверочной выборке 23. 4 в диапазоне концентраций от 0. 13 до 0. 43%. Количественными являются также калибровки концентраций Mn (0. 04% и 5. 2 в диапазоне 0. 47-1. 15%), Si (0. 003% и 20. 7 в диапазоне 0. 15-0. 33%), Cr (0. 04% и 3. 1 в диапазоне 0. 09-0. 43%) и Ni (0. 01% и 4. 8 в диапазоне 0. 05-0. 25%). Для Cu в диапазоне концентраций 0. 06-0. 26% калибровка является качественной (0. 04% и 1. 4).
Примеч. о целев. назн. Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Физика
AR-MARS
Спектроскопия
AR-MARS
Ключевые слова низколегированные стали
эмиссионная спектроскопия
лазерно-искровая спектроскопия
многопараметрическая калибровка
спектральные переменные
спектры низкого разрешения
легирующие добавки
Борисевич, Д. А.
Институт физики НАН Беларуси
070
Кацалап, К. Ю.
Институт физики НАН Беларуси
070
Ходасевич, М. А.
Институт физики НАН Беларуси
070
ISSN 0030-4034
Название источника Оптика и спектроскопия
Место и дата издания 2022
Прочая информация Т. 130, № 10. - С. 1611-1616
RU
19013582
20221206
RCR
RU
19013582
20221206
RU
AR-MARS
20221206
RCR
RU
AR-MARS
20221206
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49748265
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
opsp
2022
130
10
1611
1
13761
Прикладная оптика
drc cu
uabc
html