| Индекс УДК | 535.33 |
|
Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии М. В. Бельков, Д. А. Борисевич, К. Ю. Кацалап, М. А. Ходасевич |
|
| Объем | 1 файл (213 Кб) |
| Примечание | Загл. с титул. экрана |
| Аннотация | По эмиссионным спектрам низкого разрешения (190-440 nm, разрешение 0. 4 nm, шаг по спектру 0. 1 nm) разработаны многопараметрические модели калибровки концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu методом частичных наименьших квадратов в выборках, содержащих от 31 до 39 эталонов низколегированных сталей. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных: метод ранжирования спектральных переменных по их коэффициенту корреляции с величиной искомого параметра, алгоритм последовательного проецирования и оригинальная модификация метода поиска комбинации движущихся окон. Модель частичных наименьших квадратов с выбором спектральных переменных методом поиска комбинации движущихся окон для C является количественной: среднеквадратичное отклонение 0. 004%, остаточное отклонение в проверочной выборке 23. 4 в диапазоне концентраций от 0. 13 до 0. 43%. Количественными являются также калибровки концентраций Mn (0. 04% и 5. 2 в диапазоне 0. 47-1. 15%), Si (0. 003% и 20. 7 в диапазоне 0. 15-0. 33%), Cr (0. 04% и 3. 1 в диапазоне 0. 09-0. 43%) и Ni (0. 01% и 4. 8 в диапазоне 0. 05-0. 25%). Для Cu в диапазоне концентраций 0. 06-0. 26% калибровка является качественной (0. 04% и 1. 4). |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2022 |
| Прочая информация | Т. 130, № 10. - С. 1611-1616 |
|
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49748265 |
