| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | opsp22_to130_no9_ss1410_ad1 |
| Дата корректировки | 15:32:48 30 ноября 2022 г. |
| Кодируемые данные | 221114s2022||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
|
10. 21883/OS. 2022. 09. 53304. 3539-22 DOI |
|
| Системный контрольный номер | RUMARS-opsp22_to130_no9_ss1410_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК | 535.2/3 |
| Индекс ББК | 22.343 |
| Таблицы для массовых библиотек | |
|
Андреев, В. Г. Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова 070 |
|
|
Влияние толщины диэлектрической подложки на поглощающие и просветляющие свойства ультратонких пленок меди В. Г. Андреев, В. А. Вдовин, П. С. Глазунов [и др.] |
|
| Объем | 1 файл (183 Кб) |
| Текст | |
| электронный | |
| Примечание | Загл. с титул. экрана |
| Библиография | Библиогр.: с. 1416 (9 назв.) |
| Аннотация | Изучена зависимость оптических коэффициентов ультратонких пленок меди толщиной 2-30 nm от толщины подложек. Пленки изготавливались на кварцевых подложках толщиной 4 mm, а толщина подложек (6 и 8 mm) варьировалась путем плотного прижатия чистых подложек с толщинами 2 и 4 mm к 4-mm подложке с пленкой. Измерения проведены в волноводе в диапазоне частот 8. 5-12. 5 GHz на моде TE[10] для двух ориентаций пленки по отношению к направлению падающей волны. Зависимости оптических коэффициентов, измеренные при падении волны со стороны пленки и со стороны подложки, существенно отличаются. Показано, что эффект аномально высокого поглощения волн (более 77%) пленками меди толщиной не более 10 nm наблюдается в широкой полосе частот. Максимальное поглощение (77. 5%) зарегистрировано на частоте 8. 5 GHz при падении волны на пленку толщиной 8. 6 nm со стороны 6-mm подложки. Впервые зарегистрирован эффект экстремально малого отражения (0. 06%) при падении волны частоты 11. 54 GHz на пленку толщиной 7. 9 nm со стороны 4-mm подложки. Показано, что частотный диапазон, где наблюдался эффект минимального отражения, превышает полосу просветления диэлектрической пластины с полуволновым резонансом. |
| Примеч. о целев. назн. | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
|
Физика AR-MARS Физическая оптика AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
медные пленки ультратонкие медные пленки просветляющие свойства пленок поглощающие свойства пленок диэлектрические подложки толщина диэлектрических подложек оптические коэффициенты |
|
Вдовин, В. А. Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова 070 Глазунов, П. С. Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН 070 Пятайкин, И. И. Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН 070 Пинаев, Ю. В. Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН 070 |
|
| ISSN | 0030-4034 |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2022 |
| Прочая информация | Т. 130, № 9. - С. 1410-1416 |
|
RU 19013582 20221114 RCR |
|
|
RU 19013582 20221114 |
|
|
RU AR-MARS 20221115 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20221115 |
|
|
https://elibrary.ru/item.asp?id=49705292 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
opsp 2022 130 9 1410 1 |
|
| 13761 | |
| Оптика низкоразмерных структур, мезоструктур и метаматериалов | |
| drc cu | |
| uabc | |
| html |
