| Индекс УДК | 535.2/3 |
|
Влияние толщины диэлектрической подложки на поглощающие и просветляющие свойства ультратонких пленок меди В. Г. Андреев, В. А. Вдовин, П. С. Глазунов [и др.] |
|
| Объем | 1 файл (183 Кб) |
| Примечание | Загл. с титул. экрана |
| Аннотация | Изучена зависимость оптических коэффициентов ультратонких пленок меди толщиной 2-30 nm от толщины подложек. Пленки изготавливались на кварцевых подложках толщиной 4 mm, а толщина подложек (6 и 8 mm) варьировалась путем плотного прижатия чистых подложек с толщинами 2 и 4 mm к 4-mm подложке с пленкой. Измерения проведены в волноводе в диапазоне частот 8. 5-12. 5 GHz на моде TE[10] для двух ориентаций пленки по отношению к направлению падающей волны. Зависимости оптических коэффициентов, измеренные при падении волны со стороны пленки и со стороны подложки, существенно отличаются. Показано, что эффект аномально высокого поглощения волн (более 77%) пленками меди толщиной не более 10 nm наблюдается в широкой полосе частот. Максимальное поглощение (77. 5%) зарегистрировано на частоте 8. 5 GHz при падении волны на пленку толщиной 8. 6 nm со стороны 6-mm подложки. Впервые зарегистрирован эффект экстремально малого отражения (0. 06%) при падении волны частоты 11. 54 GHz на пленку толщиной 7. 9 nm со стороны 4-mm подложки. Показано, что частотный диапазон, где наблюдался эффект минимального отражения, превышает полосу просветления диэлектрической пластины с полуволновым резонансом. |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2022 |
| Прочая информация | Т. 130, № 9. - С. 1410-1416 |
|
https://elibrary.ru/item.asp?id=49705292 |
