| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | opsp22_to130_no2_ss332_ad1 |
| Дата корректировки | 13:21:44 1 августа 2022 г. |
| Кодируемые данные | 220706s2022||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
|
10. 21883/OS. 2022. 02. 52004. 2872-21 DOI |
|
| Системный контрольный номер | RUMARS-opsp22_to130_no2_ss332_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК | 539.2 |
| Индекс ББК | 22.37 |
| Таблицы для массовых библиотек | |
|
Осипов, В. Ю. ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН; Университет ИТМО 070 |
|
|
Идентификация NV-центров в синтетических флуоресцентных наноалмазах и контроль дефектности кристаллитов методом электронного парамагнитного резонанса В. Ю. Осипов, К. В. Богданов, F. Treussart [и др.] |
|
| Объем | 1 файл (1, 05 Мб) |
| Текст | |
| электронный | |
| Примечание | Загл. с титул. экрана |
| Библиография | Библиогр.: с. 341 (30 назв.) |
| Аннотация | Исследованы 100 nm частицы синтетического алмаза с большим (>4 ppm) количеством азот-вакансионных (NV{-}) центров. Последние обнаруживают линии, связанные с запрещенными Delta m[s]=2 и разрешенными Delta m[s]=1 переходами на спектрах электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) основного состояния NV- центра. Интенсивность люминесценции частиц в диапазоне 600-800 nm увеличивается с дозой облучения 5 MeV электронами и коррелирует с интегральной интенсивностью линии ЭПР с g-фактором g=4. 27. Эта величина используется для оценки концентрации NV (-) центров и отбора алмазных порошков с наибольшей интенсивностью флуоресценции. Зависимость пиковой интенсивности ЭПР сигнала Delta m[s]=2 перехода NV{ (-) } центра от микроволновой мощности имеет вид кривой с насыщением и последующим спадом, и достаточно хорошо характеризует кристаллическое качество локального окружения исследуемых центров в этих частицах. Интенсивность x, y Delta m[s]=1 перехода (при ~281. 2 mT, 9. 444 GHz) оказывается более чувствительной к изменению размера частицы в субмикронном диапазоне и появлению приповерхностных дефектов, полученных в ходе механической обработки. |
| Примеч. о целев. назн. | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
|
Физика AR-MARS Физика твердого тела. Кристаллография в целом AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
кристаллиты дефектность кристаллитов электронный парамагнитный резонанс контроль дефектности кристаллитов идентификация NV-центров флуоресцентные наноалмазы синтетические наноалмазы |
|
Богданов, К. В. Университет ИТМО 070 Treussart, F. Universite Paris-Saclay 070 Rampersaud, A. Columbus Nanoworks Inc. 070 Баранов, А. В. Университет ИТМО 070 |
|
| ISSN | 0030-4034 |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2022 |
| Прочая информация | Т. 130, № 2. - С. 332-341 |
|
RU 19013582 20220706 RCR |
|
|
RU 19013582 20220706 |
|
|
RU AR-MARS 20220705 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20220705 |
|
|
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=48007305 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
opsp 2022 130 2 332 1 |
|
| 13761 | |
| Нанофотоника | |
| drc cu | |
| uabc | |
| html |
