Поиск

Исследование магнитных диодов со слоем GaMnAs, изготовленным методом импульсного лазерного осаждения

Авторы: Звонков, Б. Н. Вихрова, О. В. Данилов, Ю. А. Дорохин, М. В. Кудрин, А.В. Калентьева, И. Л. Ларионова, Е. А. Ковальский, В. А. Солтанович, О. А.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Исследование магнитных диодов со слоем GaMnAs, изготовленным методом импульсного лазерного осаждения
Электронный ресурс
Аннотация Представлены результаты экспериментального изучения новой конструкции диодных гетероструктур с ферромагнитными слоями (Ga,Mn)As. Диодные структуры изготовлены сочетанием методов МОС-гидридной эпитаксии и импульсного лазерного осаждения и содержат гетеропереходы (Ga,Mn)As/n-InGaAs. Исследованы электрические свойства диодов в магнитном поле, приложенном перпендикулярно плоскости p-n-перехода. Обнаружено отрицательное магнетосопротивление при температурах < 50K - меньше температуры Кюри (Ga,Mn)As, связанное с уменьшением рассеяния носителей заряда благодаря наличию ферромагнитного упорядочения и со снижением потенциального барьера на границе (Ga,Mn)As/n-InGaAs. Наблюдаемое отрицательное магнетосопротивление немонотонно зависит от величины прямого смещения с максимумом в области напряжения, близкого к высоте потенциального барьера p-n-перехода. Наличие максимума может быть связано с определяющим вкладом спин-зависимых сопротивления слоя (Ga,Mn)As и сопротивления на границе раздела (Ga,Mn)As/n-InGaAs в величину общего сопротивления структуры. Установлено, что зависимость магнетосопротивления от внешнего магнитного поля имеет гистерезисный вид, особенности которого обусловлены влиянием напряжений растяжения в слое (Ga,Mn)As, выращенном поверх релаксированного буфера In[x]Ga[1-x]As.
Ключевые слова магнитные диоды
Физика и техника полупроводников
2019
Т. 53, вып. 3. - С. 351-358
Имя макрообъекта Звонков_исследование