Индекс УДК | 621.315.592 |
Исследование структурных и морфологических свойств HPHT алмазных подложек Электронный ресурс |
|
Аннотация | Методами оптической интерференционной микроскопии белого света, атомно-силовой микроскопии и рентгеновской дифрактометрии проведены комплексные исследования морфологических и структурных свойств серии монокристаллических HPHT алмазных подложек. Описаны методики, позволяющие охарактеризовать наиболее критичные для эпитаксиального применения параметры подложек на лабораторном оборудовании. Показано, что характеризации алмазных подложек только по ювелирному типу недостаточно при оценке возможности их использования для эпитаксиального роста CVD-алмаза. |
Ключевые слова | алмазные подложки |
Название источника | Физика и техника полупроводников |
Место и дата издания | 2018 |
Прочая информация | Т. 52, вып. 11. - С. 1321-1325 |
Имя макрообъекта | Юнин_исследование |