| Индекс УДК | 621.315.592 |
|
Моделирование уровней размерного квантования Si-нанокристаллов в матрице SiO[2]: подбор параметров эмпирического метода сильной связи Электронный ресурс |
|
| Ключевые слова | квантование Si-нанокристаллов |
|
Физика и техника полупроводников 2018 Т. 52, вып. 10. - С. 1145-1149 |
|
| Имя макрообъекта | Белолипецкий_моделирование |
