Поиск

Структурные, оптические и электрические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3], полученных золь-гель-методом

Авторы: Орлецкий, И. Г. Солован, М. Н. Pinna, F. Cicero, G. Марьянчук, П. Д. Майструк, Э. В. Tresso, E.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/688474165
Дата корректировки 11:23:40 25 октября 2021 г.
10.21883/FTT.2017.04.44283.354
Служба первич. каталог. Войтик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.21
Орлецкий, И. Г.
Структурные, оптические и электрические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3], полученных золь-гель-методом
Электронный ресурс
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 29 назв.
Аннотация Представлен комплексный анализ структурных, оптических и электрических свойств тонких пленок Cu[2]SnS[3] p-типа электропроводности, полученных путем нанесения на подложки золь-гель-раствора на основе диметилсульфоксида методом центрифугирования с последующей термообработкой сформированных слоев. Проанализированы режимы формирования пленок с использованием низкотемпературной кратко- временной обработки в открытой атмосфере и конечного отжига в низком вакууме (0.1 Pa). С помощью рентгеновского фазового анализа определены размеры кристаллитов D ~ 42 nm в поликристаллических пленках. Подтвержден их состав на основе спектров комбинационного рассеяния и данных энергодисперсионного рентгеновского анализа. В результате исследований пропускания и поглощения света определена оптическая ширина запрещенной зоны для прямых разрешенных (E{d}[g] приблизительно равно 1.25 eV) и прямых запрещенных (E{df}[g] приблизительно равно 0.95 eV) оптических переходов. На основании анализа электрических свойств с использованием модели для поликристаллических материалов установлена пригодность полученных пленок с удельным сопротивлением p приблизительно равно 0.21 омега · cm, концентрацией дырок p[0] приблизительно равно 1.75 · 10{19} cm{-3} и эффективной подвижностью мю p приблизительно равно 1.67 cm{2}/(V · s) для изготовления солнечных элементов.
Ключевые слова пленки
тонкие пленки
золь-гель-метод
дихлорид меди
дихлорид олова
тиомочевина
диметилсульфоксид
структурные свойства
оптические свойства
электрические свойства
Другие авторы Солован, М. Н.
Pinna, F.
Cicero, G.
Марьянчук, П. Д.
Майструк, Э. В.
Tresso, E.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2017
Прочая информация Т. 59, вып. 4. - С. 783-789
Имя макрообъекта Орлецкий_структурные
Тип документа b