Поиск

Структурные, оптические и электрические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3], полученных золь-гель-методом

Авторы: Орлецкий, И. Г. Солован, М. Н. Pinna, F. Cicero, G. Марьянчук, П. Д. Майструк, Э. В. Tresso, E.
Подробная информация
Индекс УДК 539.21
Структурные, оптические и электрические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3], полученных золь-гель-методом
Электронный ресурс
Ключевые слова пленки
Другие авторы Солован, М. Н.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2017
Прочая информация Т. 59, вып. 4. - С. 783-789
Имя макрообъекта Орлецкий_структурные