| Индекс УДК | 621.315.592 |
|
Анализ особенностей кристаллической структуры НЕМТ-гетероструктур GaN/Al[0.32]Ga[0.68]N по данным рентгеновской дифрактометрии методом Вильямсона-Холла Электронный ресурс |
|
| Ключевые слова | рентгеновская дифрактометрия |
|
Физика и техника полупроводников 2018 Т. 52, вып. 6. - С. 586-590 |
|
| Имя макрообъекта | Пушкарeв_анализ |
