Поиск

Электрический пробой в чистом n- и p-Si

Авторы: Банная, В. Ф. Никитина, Е. В.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Электрический пробой в чистом n- и p-Si
Электронный ресурс
Аннотация Представлены результаты расчета зависимостей кинетических коэффициентов ударной ионизации и термической рекомбинации от электрического поля в чистом кремнии. По аналогии с германием рассчитаны зависимости поля электрического пробоя E[br] от степени компенсации материала K. Дано подробное обоснование правомочности такого расчета. Представлены кривые E[br](K) и проведено сравнение с экспериментальными данными в области слабых компенсаций. Выполнена привязка к экспериментальным результатам, при которой наблюдается удовлетворительное соответствие теории и эксперимента.
Ключевые слова электрические пробои
Физика и техника полупроводников
2018
Т. 52, вып. 3. - С. 291-294
Имя макрообъекта Банная_электрический