Индекс УДК | 621.315.592 |
Нелинейная по концентрации поверхностных состояний модель барьера Шоттки и расчет вольт-амперных характеристик диодов на основе SiC и его твердых растворов в составной модели токопереноса Электронный ресурс |
|
Ключевые слова | барьеры Шоттки |
Физика и техника полупроводников 2018 Т. 52, вып. 3. - С. 366-369 |
|
Имя макрообъекта | Алтухов_нелинейная |