Поиск

Нелинейная по концентрации поверхностных состояний модель барьера Шоттки и расчет вольт-амперных характеристик диодов на основе SiC и его твердых растворов в составной модели токопереноса

Авторы: Алтухов, В. И. Санкин, А. В. Сигов, А. С. Сысоев, Д. К. Янукян, Э. Г. Филиппова, С. В.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Нелинейная по концентрации поверхностных состояний модель барьера Шоттки и расчет вольт-амперных характеристик диодов на основе SiC и его твердых растворов в составной модели токопереноса
Электронный ресурс
Ключевые слова барьеры Шоттки
Физика и техника полупроводников
2018
Т. 52, вып. 3. - С. 366-369
Имя макрообъекта Алтухов_нелинейная