Маркер записи | n |
Контрольный номер | RU/IS/BASE/687440774 |
Дата корректировки | 11:49:08 13 октября 2021 г. |
Служба первич. каталог. | Шавель |
Код языка каталог. | rus |
Правила каталог. | PSBO |
Код языка издания | rus |
Индекс УДК | 621.315.592 |
Станчик, А. В. | |
Микроструктура и комбинационное рассеяние света тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4], осажденных на гибкие металлические подложки Электронный ресурс |
|
Microstructure and Raman scattering of deposited Cu[2]ZnSnSe[4] thin films on flexible metal substrates | |
Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
Библиография | Библиогр.: 36 назв. |
Аннотация | Тонкие пленки Cu[2]ZnSnSe[4] получены путем селенизации послойно электрохимически осажденных и предварительно отожженных прекурсоров Cu-Zn-Sn. В качестве гибких металлических подложек использованы фольги Мо и Та. Морфология, элементный и фазовый составы, кристаллическая структура пленок Cu[2]ZnSnSe[4] исследованы методами сканирующей электронной микроскопии, рентгеноспектрального микроанализа, рентгенофазового анализа и спектроскопии комбинационного рассеяния света. |
Ключевые слова | тонкие пленки |
микроструктура комбинационное рассеяние света гибкие металлические подложки селенизация |
|
Гременок, В. Ф. Башкиров, С. А. Тиванов, М. С. Юшкенас, Р. Л. Новиков, Г. Ф. Герайтис, Р. Саад, A.M. |
|
Физика и техника полупроводников 2018 Т. 52, вып. 2. - С. 227-232 |
|
Имя макрообъекта | Станчик_микроструктура |
Тип документа | b |