Индекс УДК | 621.315.592 |
Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS[x]Se[1-x], полученных в матрице пористого оксида алюминия Электронный ресурс |
|
Аннотация | Наноструктуры полупроводниковых соединений ZnS[x]Se[1-x] (x = 0, 0.1, 0.3, 0.5, 0.7, 1) были синтезированы с использованием темплатного метода, основанного на формировании наночастиц полупроводника в шаблонах пористого анодного оксида алюминия при помощи метода вакуумного термического испарения смеси порошков ZnS и ZnSe. Представлены результаты исследований элементного состава полученных наноструктур в зависимости от состава исходной смеси и параметров матрицы-подложки методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Показано, что состав наноструктур близок к составу исходных порошков и может быть задан соотношением ZnS/ZnSe в исходной смеси. |
Ключевые слова | рентгеновскя фотоэлектронная спектроскопия |
Физика и техника полупроводников 2017 Т. 51, вып. 10. - С. 1400-1403 |
|
Имя макрообъекта | Чукавин_исследования |