Поиск

Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS[x]Se[1-x], полученных в матрице пористого оксида алюминия

Авторы: Чукавин, А. И. Валеев, Р. Г. Бельтюков, А. Н.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Исследования методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии наноструктур ZnS[x]Se[1-x], полученных в матрице пористого оксида алюминия
Электронный ресурс
Аннотация Наноструктуры полупроводниковых соединений ZnS[x]Se[1-x] (x = 0, 0.1, 0.3, 0.5, 0.7, 1) были синтезированы с использованием темплатного метода, основанного на формировании наночастиц полупроводника в шаблонах пористого анодного оксида алюминия при помощи метода вакуумного термического испарения смеси порошков ZnS и ZnSe. Представлены результаты исследований элементного состава полученных наноструктур в зависимости от состава исходной смеси и параметров матрицы-подложки методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Показано, что состав наноструктур близок к составу исходных порошков и может быть задан соотношением ZnS/ZnSe в исходной смеси.
Ключевые слова рентгеновскя фотоэлектронная спектроскопия
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 10. - С. 1400-1403
Имя макрообъекта Чукавин_исследования