Поиск

Дельта-легирование соединениями марганца гетероструктур на основе GaAs

Авторы: Моисеев, К. Д. Неведомский, В. Н. Kudriavtsev, Yu. Escobosa-Echavarria, A. Lopez-Lopez, M.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/686072868
Дата корректировки 15:52:53 27 сентября 2021 г.
10.21883/FTP.2017.09.44882.8534
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Моисеев, К. Д.
Дельта-легирование соединениями марганца гетероструктур на основе GaAs
Электронный ресурс
Delta-doping of GaAs-based heterostructures by manganese compounds
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 19 назв.
Аннотация Гетероструктуры с квантовыми ямами GaAs/InGaAs/GaAs, легированные пространственно удаленными моноатомными слоями Mn, были получены на подложке GaAs(001) в режиме монослойного наращивания методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Комбинированные исследования полученных образцов были проведены при помощи метода вторичной ионной масс-спектрометрии, рентгено-дифракционных измерений и с использованием просвечивающего электронного микроскопа. Исследуемые гетероструктуры с концентрацией легирующей примеси 0.5 монослоя были упруго напряжены и демонстрировали планарные четкие границы раздела без видимых протяженных и точечных дефектов. Предложена методика визуализации распределения концентрации марганца в трехмерной матрице GaAs вблизи квантовой ямы. Согласно экспериментальным результатам существует вероятность диффузии марганца в квантовую яму GaAs/InGaAs/GaAs при уменьшении критической толщины буферного слоя GaAs менее 3 нм.
Ключевые слова гетероструктуры
дельта-легирование
квантовыми ямы
молекулярно-пучковая эпитаксия
масс-спектрометрия
рентгено-дифракционные измерения
марганец
арсенид галлия
Неведомский, В. Н.
Kudriavtsev, Yu.
Escobosa-Echavarria, A.
Lopez-Lopez, M.
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 9. - С. 1189-1195
Имя макрообъекта Моисеев_дельта
Тип документа b