| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/680269031 |
| Дата корректировки | 11:41:35 22 июля 2021 г. |
| 10.21883/FTP.2017.06.44553.13 | |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.315.592 |
| Лукьянова, Л. Н. | |
|
Морфология межслоевой поверхности и микро-рамановские спектры в слоистых пленках топологических изоляторов на основе теллурида висмута Электронный ресурс |
|
| Morphology of the interlayer surface and micro-Raman spectra of layered films in bismuth telluride based topological insulators | |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 6 назв. |
| Аннотация | В тонких слоистых пленках n-Bi[2]Te[3] и твердых растворов на основе Bi[2]Te[3] исследованы резонансные микро-рамановские спектры и морфология межслоевой ван-дер-ваальсовой поверхности. Установлено влияние состава, толщины, морфологии поверхности и метода получения пленок на относительную интенсивность рамановских фононов, чувствительных к поверхностным топологическим состояниям фермионов Дирака. |
| Ключевые слова | топологические изоляторы |
|
теллурид висмута микро-рамановские спектры слоистые пленки наноструктурированные пленки твердые растворы рамановские фононы фермионы Дирака |
|
|
Бибик, А. Ю. Асеев, В. А. Усов, О. А. Макаренко, И. В. Петров, В. Н. Никоноров, Н. В. |
|
|
Физика и техника полупроводников 2017 Т. 51, вып. 6. - С. 792-797 |
|
| Имя макрообъекта | Лукьянова_морфология |
| Тип документа | b |
