Поиск

Сплавные омические контакты на основе Si/Al к нитридным гетеросистемам AlGaN/GaN

Авторы: Слаповский, Д. Н. Павлов, А. Ю. Павлов, В. Ю. Клековкин, А. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/679659240
Дата корректировки 10:19:18 15 июля 2021 г.
10.21883/FTP.2017.04.44336.8418
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Слаповский, Д. Н.
Сплавные омические контакты на основе Si/Al к нитридным гетеросистемам AlGaN/GaN
Электронный ресурс
Alloyed Si/Al-based ohmic contacts to nitride AlGaN/GaN heterostructures
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 18 назв.
Аннотация Впервые в России исследована сплавная контактная композиция Si/Al/Ti/Au для формирования омических контактов к гетероструктурам AlGaN/GaN с использованием температурного отжига. Проведено сравнение полученных результатов с традиционными омическими контактами Ti/Al/Ni/Au. Использование исследуемой композиции позволило снизить температуру отжига до 675-700°C, что привело к улучшению морфологии сплавных омических контактов по сравнению с традиционными. Были получены зависимости значения контактного сопротивления с использованием композиции на основе Si/Al к гетероструктуре AlGaN/GaN от температуры и длительности температурного отжига. Показано, что в диапазоне температур 700-750°C качественного изменения сопротивления не происходит при длительности отжига несколько минут. В диапазоне температур 675-700°C идет асимптотическое уменьшение удельного контактного сопротивления при увеличении длительности отжига. Минимальное значение удельного контактного сопротивления составило 0.41 Ом · мм.
Ключевые слова нитридные гетеросистемы
сплавные омические контакты
омические контакты
гетероструктуры
контактное сопротивление
Павлов, А. Ю.
Павлов, В. Ю.
Клековкин, А. В.
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 4. - С. 461-466
Имя макрообъекта Слаповский_сплавные
Тип документа b