Поиск

Особенности вольт-фарадных характеристик МДП-структуры Cu-SiO[2]-p-InSb

Авторы: Алиев, Р. А. Гаджиев, Г. М. Гаджиалиев, М. М. Исмаилов, А. М. Пирмагомедов, З. Ш.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/679069785
Дата корректировки 14:35:03 8 июля 2021 г.
10.21883/FTP.2017.03.44212.8220
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Алиев, Р. А.
Особенности вольт-фарадных характеристик МДП-структуры Cu-SiO[2]-p-InSb
Электронный ресурс
The effect of oxide charge states on the capacitance-voltage characteristics of the MOS structure of Cu-SiO[2]-p-InSb
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 12 назв.
Аннотация Измерены вольт-фарадные характеристики и проводимость МДП-структур на основе InSb при разных частотах измерительного сигнала с целью изучения влияния условий технологического синтеза на емкостные свойства данных структур. Обсуждается влияние положительного, встроенного в диэлектрик, заряда на измеренные характеристики образца, которое проявляется в виде резкого "переключения" емкости при смене полярности слабополевого внешнего воздействия (E < 10{6} В/см).
Ключевые слова МДП-структуры
антимонид индия
полупроводники
вольт-фарадные характеристики
магнетронное распыление
Гаджиев, Г. М.
Гаджиалиев, М. М.
Исмаилов, А. М.
Пирмагомедов, З. Ш.
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 3. - С. 383-385
Имя макрообъекта Алиев_особенности
Тип документа b