| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/676029263 |
| Дата корректировки | 10:03:59 3 июня 2021 г. |
| 10.21883/FTP.2020.06.49379.9362 | |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.315.592 |
| Гусейналиев, М. Г. | |
|
Оптические свойства и критические точки наноструктурированных тонких пленок PbSe Электронный ресурс |
|
| Optical properties and critical points of nanostructured PbSe thin films | |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 8 назв. |
| Аннотация | Для изучения оптических свойств наноструктурированных тонких пленок PbSe, полученных методом химического осаждения, был использован метод спектроскопической эллипсометрии. Для лучшего разрешения структуры межзонных переходов и определения критических точек используется функция d{2}E/dw{2}, полученная путем численного дифференцирования экспериментальных данных диэлектрической функции. Теоретическая подгонка была проведена с помощью программы "Graphical Analysis". Наилучшая подгонка получена для двухмерной (2D) формы критической точки (m = 0), для области энергий E = 2-3эВ и была определена одна критическая точка, соответствующая E[g] = 2.5 эВ. Это значение относится к переходу L[4] - L[6] зоны Бриллюэна. |
|
тонкие пленки спектроскопическая эллипсометрия зона Бриллюэна химическое осаждение селенид свинца диэлектрическая функция анализ критических точек халькогенидные соединения свинца полупроводники |
|
|
Ясинова, С. Н. Джалилли, Д. Н. Мехтиева, С. И. |
|
|
Физика и техника полупроводников 2020 Т. 54, вып. 6. - С. 527-531 |
|
| Имя макрообъекта | Гусейналиев_оптические |
| Тип документа | b |
