| Индекс УДК | 621.315.592 |
|
Оптические свойства и критические точки наноструктурированных тонких пленок PbSe Электронный ресурс |
|
| Аннотация | Для изучения оптических свойств наноструктурированных тонких пленок PbSe, полученных методом химического осаждения, был использован метод спектроскопической эллипсометрии. Для лучшего разрешения структуры межзонных переходов и определения критических точек используется функция d{2}E/dw{2}, полученная путем численного дифференцирования экспериментальных данных диэлектрической функции. Теоретическая подгонка была проведена с помощью программы "Graphical Analysis". Наилучшая подгонка получена для двухмерной (2D) формы критической точки (m = 0), для области энергий E = 2-3эВ и была определена одна критическая точка, соответствующая E[g] = 2.5 эВ. Это значение относится к переходу L[4] - L[6] зоны Бриллюэна. |
|
Физика и техника полупроводников 2020 Т. 54, вып. 6. - С. 527-531 |
|
| Имя макрообъекта | Гусейналиев_оптические |
