| Индекс УДК | 621.315.592 |
|
Зависимость кинетики кристаллизации тонких пленок Cr[0.26]Si[0.74] от толщины Электронный ресурс |
|
| Ключевые слова | термоэлектричество |
|
Физика и техника полупроводников 2020 Т. 54, вып. 4. - С. 355-357 |
|
| Имя макрообъекта | Новиков_зависимость |
