Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | noma20_to56_no2_ss173_ad1 |
Дата корректировки | 8:42:55 31 мая 2021 г. |
Кодируемые данные | 210525s2020||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
Системный контрольный номер | RUMARS-noma20_to56_no2_ss173_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
Научная библиотека Дагестанского государственного университета МАРС |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
rus rus |
Индекс УДК |
546 539.2 |
Индекс ББК |
24.12 22.37 |
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
Маликов, И. В. 070 |
|
Эпитаксиальные пленки Fe[3]O[4], выращенные методом импульсного лазерного осаждения на R-плоскости сапфира И. В. Маликов, В. А. Березин, Л. А. Фомин, А. В. Черных |
|
Иллюстрации/ тип воспроизводства | 5 рис. |
Текст | |
непосредственный | |
Библиография | Библиогр.: с. 179-180 (28 назв. ) |
Аннотация | Исследовано влияние температуры и давления молекулярного кислорода на свойства тонких (до 180 нм) эпитаксиальных пленок магнетита Fe[3]O[4] (001), выращенных методом импульсного лазерного осаждения на R-плоскости монокристаллического сапфира Al[2]O[3] (1012) с подслоем MgO и без него. Изучены их электрические, морфологические и структурные характеристики в зависимости от условий роста. Обнаружено плато устойчивого роста Fe[3]O[4] в диапазоне давлений (4-9) · 10{-5} мм рт. ст. Установлено, что свойства эпитаксиальных пленок Fe[3]O[4] на подслое MgO (5 нм) соответствуют выращиваемым на монокристаллических подложках MgO, при этом они превосходят по качеству пленки, выращенные на чистой R-плоскости сапфира. Наилучшие электрические характеристики и соответствующая им кристаллическая структура пленок достигаются при повышенных температурах роста, а минимальная шероховатость и максимальная однородность поверхности, наоборот, при пониженных. Совместить эти условия позволяет отжиг при высоких температурах в высоком вакууме пленок магнетита, предварительно выращенных при пониженной температуре. |
Химия AR-MARS Химические элементы и их соединения AR-MARS Физика AR-MARS Физика твердого тела. Кристаллография в целом AR-MARS |
|
Ключевые слова |
атомно-силовая микроскопия импульсное лазерное осаждение магнетиты сапфир тонкие пленки эпитаксиальные пленки эпитаксиальный рост |
Березин, В. А. 070 Фомин, Л. А. 070 Черных, А. В. 070 |
|
ISSN | 0002-337X |
Название источника | Неорганические материалы |
Место и дата издания | 2020 |
Прочая информация | Т. 56, № 2. - С. 173-180 |
RU 36713090 20210525 RCR |
|
RU 36713090 20210525 |
|
RU AR-MARS 20210525 RCR |
|
RU AR-MARS 20210525 |
|
https://sciencejournals.ru/list-issues/neorgmat/ https://www.elibrary.ru/item.asp?id=42365989 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
noma 2020 56 2 173 1 |
|
13607 |