Поиск

Влияние радиационных дефектов, созданных низкоэнергетическими протонами при температуре 83K, на характеристики кремниевых фотоэлектрических структур

Авторы: Богатов, Н. М. Григорьян, Л. Р. Коваленко, А. И. Коваленко, М. С. Колоколов, Ф. А. Лунин, Л. С.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/675526804
Дата корректировки 14:23:50 28 мая 2021 г.
10.21883/FTP.2020.02.48909.9255
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Богатов, Н. М.
Влияние радиационных дефектов, созданных низкоэнергетическими протонами при температуре 83K, на характеристики кремниевых фотоэлектрических структур
Электронный ресурс
Influence of radiation defects created by low-energy pronons at 83K temperature on the characteristics of silicon photoelectric structures
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 15 назв.
Аннотация Облучение низкоэнергетическими протонами приводит к изменению электрофизических, оптических и других свойств поверхностной области полупроводниковых структур, что создает дополнительные возможности модификации полупроводниковых приборов. Работа посвящена изучению влияния радиационных дефектов, созданных низкоэнергетическими протонами при температуре образцов 83K, на свойства двусторонних кремниевых фотоэлектрических структур с диффузионным n{+}-p-переходом. Образцы n{+}-p-p{+}-типа облучались потоком протонов с дозой 10{15} cм{-2} и энергией 40 либо 180 кэВ. Для объяснения наблюдаемых закономерностей изменения параметров вольт-амперных характеристик и коэффициентов пропускания рассчитано распределение среднего числа межузельного кремния, вакансий, дивакансий и областей разупорядочения, созданных при этих условиях на единице длины проективного пробега одним протоном в диффузионном слое и области пространственного заряда n{+}-p-перехода. Показано, что протоны с начальной энергией 40 кэВ преимущественно изменяют физические свойства слоя с высокой концентрацией доноров, а протоны с начальной энергией 180 кэВ - свойства области пространственного заряда в слое, содержащем акцепторы. Количество радиационных дефектов в максимуме пространственного распределения в n-области много меньше, чем в p-области.
Ключевые слова радиационные дефекты
протоны
низкоэнергетические протоны
кремний
n-p-переходы
вольт-амперная характеристика
спектры пропускания
кремниевые фотоэлектрические структуры
Григорьян, Л. Р.
Коваленко, А. И.
Коваленко, М. С.
Колоколов, Ф. А.
Лунин, Л. С.
Физика и техника полупроводников
2020
Т. 54, вып. 2. - С. 144-148
Имя макрообъекта Богатов_влияние
Тип документа b