Поиск

Оптимизация толщины слоя In[0.3]Ga[0.7]As в трехкаскадном In[0.3]Ga[0.7]As/GaAs/In[0.5]Ga[0.5]P солнечном элементе

Авторы: Леган, Д. М. Пчеляков, О. П. Преображенский, В. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/675509357
Дата корректировки 9:34:34 28 мая 2021 г.
Стандартный номер 10.21883/FTP.2020.01.48776.9240
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Леган, Д. М.
Оптимизация толщины слоя In[0.3]Ga[0.7]As в трехкаскадном In[0.3]Ga[0.7]As/GaAs/In[0.5]Ga[0.5]P солнечном элементе
Электронный ресурс
In[0.3]Ga[0.7]As layer thickness optimization in the triple-junction In[0.3]Ga[0.7]As/GaAs/In[0.5]Ga[0.5]P solar cell
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 8 назв.
Аннотация С помощью программного пакета для приборно-технологического моделирования ”Sentaurus TCAD“ производился поиск оптимальной толщины поглощающего слоя нижнего каскада In0.3Ga0.7As трехкаскадного In[0.3]Ga[0.7]As/GaAs/In[0.5]Ga[0.5]P солнечного элемента в зависимости от времени жизни неосновных носителей заряда в этом слое. Величина времени жизни задавалась в диапазоне от 17 пс до 53 нс. Результаты расчета показали, что в зависимости от величины времени жизни оптимальная толщина принимает различные значения в диапазоне от 0.9 до 7.5 мкм. Также была проведена оценка вклада в кпд данного трехкаскадного солнечного элемента от нижнего In[0.3]Ga[0.7]As каскада. При различных значениях времен жизни, его величина составила от 1 до 7%.
Ключевые слова численное моделирование
оптимальная толщина
трехкаскадные солнечные элементы
солнечные элементы
Sentaurus TCAD
гетероструктуры
Пчеляков, О. П.
Преображенский, В. В.
Физика и техника полупроводников
2020
Т. 54, вып. 1. - С. 65-68
Имя макрообъекта Леган_оптимизация
Тип документа b