Поиск

Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO[2] на Al в THz-IR-диапазоне

Авторы: Командин, Г. А. Ноздрин, В. С. Пронин, А. А. Породинков, О. Е. Анзин, В. Б. Спектор, И. Е.
Подробная информация
Индекс УДК 539.21
Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO[2] на Al в THz-IR-диапазоне
Электронный ресурс
Ключевые слова пленки
Другие авторы Ноздрин, В. С.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2020
Прочая информация Т. 62, вып. 2. - С. 223-228
Имя макрообъекта Командин_диэлектрические