Индекс УДК | 539.21 |
Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO[2] на Al в THz-IR-диапазоне Электронный ресурс |
|
Ключевые слова | пленки |
Другие авторы | Ноздрин, В. С. |
Название источника | Физика твердого тела |
Место и дата издания | 2020 |
Прочая информация | Т. 62, вып. 2. - С. 223-228 |
Имя макрообъекта | Командин_диэлектрические |