| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/671206576 |
| Дата корректировки | 14:40:36 8 апреля 2021 г. |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.315.592 |
| Жуков, Н. Д. | |
|
Локальная эмиссионная спектроскопия микрозерен поверхности полупроводников A{III}B{V} Электронный ресурс |
|
| Local emission spectroscopy of micrograins on A{III}B{V} semiconductor surface | |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 18 назв. |
| Аннотация | В туннельном микроскопе в режиме полевой эмиссии на выбираемых локально микрозернах поверхности антимонида и арсенида индия, арсенида галлия исследованы спектры плотности и параметры уровней электронных состояний. Методом соответствия вольт-амперных характеристик и формулы для вероятности эмиссии через уровни найдены значения энергии их активации и времени жизни электронов на них. Идентифицированы два типа уровней электронной локализации - в объеме и в приповерхностной зоне микрозерна. Предложена физическая модель - локализация легких электронов за счет кулоновского взаимодействия и их размерное квантование, определяемые эффективной массой, энергией и концентрацией электронов, кривизной поверхности микрозерна. |
| Ключевые слова | локальная эмиссионная спектроскопия |
|
полупроводники A{III}B{V} антимонид индия арсенид индия арсенид галлия кулоновское взаимодействие |
|
|
Глуховской, Е. Г. Мосияш, Д. С. |
|
|
Физика и техника полупроводников 2016 Т. 50, вып. 7. - С. 911-917 |
|
| Имя макрообъекта | Жуков_локальная |
| Тип документа | b |
