Поиск

Локальная эмиссионная спектроскопия микрозерен поверхности полупроводников A{III}B{V}

Авторы: Жуков, Н. Д. Глуховской, Е. Г. Мосияш, Д. С.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Локальная эмиссионная спектроскопия микрозерен поверхности полупроводников A{III}B{V}
Электронный ресурс
Аннотация В туннельном микроскопе в режиме полевой эмиссии на выбираемых локально микрозернах поверхности антимонида и арсенида индия, арсенида галлия исследованы спектры плотности и параметры уровней электронных состояний. Методом соответствия вольт-амперных характеристик и формулы для вероятности эмиссии через уровни найдены значения энергии их активации и времени жизни электронов на них. Идентифицированы два типа уровней электронной локализации - в объеме и в приповерхностной зоне микрозерна. Предложена физическая модель - локализация легких электронов за счет кулоновского взаимодействия и их размерное квантование, определяемые эффективной массой, энергией и концентрацией электронов, кривизной поверхности микрозерна.
Ключевые слова локальная эмиссионная спектроскопия
Физика и техника полупроводников
2016
Т. 50, вып. 7. - С. 911-917
Имя макрообъекта Жуков_локальная