Индекс УДК | 621.315.592 |
Исследование распределения электронов в GaN и GaAs структурах после гамма-нейтронного облучения Электронный ресурс |
|
Аннотация | Приводятся результаты экспериментального исследования параметров GaN и GaAs структур до и после гамма-нейтронного облучения. Предложен специальный набор тестовых диодов, позволяющих снизить погрешность результатов измерений параметров структур, что важно для проектирования и оптимизации конструкции полупроводниковых приборов. |
Ключевые слова | гамма-нейтронные облучения |
Название источника | Физика и техника полупроводников |
Место и дата издания | 2016 |
Прочая информация | Т. 50, вып. 3. - С. 331-338 |
Имя макрообъекта | Тарасова_исследование |