Поиск

Оценка стойкости к диффузионной деструкции наноразмерных AlAs/GaAs резонансно-туннельных гетероструктур методом ИК-спектральной эллипсометрии

Авторы: Макеев, М. О. Иванов, Ю. А. Мешков, С. А.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592:539.2
Оценка стойкости к диффузионной деструкции наноразмерных AlAs/GaAs резонансно-туннельных гетероструктур методом ИК-спектральной эллипсометрии
Электронный ресурс
Физика и техника полупроводников
2016
Т. 50, вып. 1. - С. 83-88
Имя макрообъекта Макеев_оценка