| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/454152388 |
| Дата корректировки | 21:38:22 13 октября 2015 г. |
| Служба первич. каталог. | Боровик |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 537.533:543.42 |
| Лазов, М. А. | |
|
Определение стехиометрии и толщины ионно-синтезированных оксидных наноструктур вольфрама методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии Текст |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 21 назв. |
|
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия оксидные наноструктуры вольфрам тонкие пленки ионно-лучевая обработка |
|
|
Алов, Н. В. Ищенко, А. А. |
|
|
Химия и химическая технология. Изв. вузов 2014 Т. 57, № 2. - С. 25-29 |
|
| Тип документа | b |
