Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Евдокимов, И. И., Пименов, В. Г., Фадеева, Д. А.
Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой, [[Текст]], И. И. Евдокимов, В. Г. Пименов, Д. А. Фадеева
7 табл., 6 рис.
// Журнал аналитической химии .-
2018 .-
Т. 73, № 4. - С. 253-263 .-
