-
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин
Воробей, Р. И., Гусев, О. К., Жарин, А. Л., Петлицкий, А. Н., Пилипенко, В. А., Турцевич, А. С., Тявловский, А. К., Тявловский, К. Л.
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2013, № 2. - С. 67-72
-
Измерительный преобразователь систем оптической диагностики
Воробей, Р. И., Гусев, О. К., Свистун, А. И., Тявловский, А. К., Тявловский, К. Л., Шадурская, Л. И.
Измерительный преобразователь систем оптической диагностики, [Текст]
ил.
Метрология и приборостроение, 2021, № 2. - С. 15-21
-
Фотоприемники на основе собственных полупроводников для построения измерительных преобразователей
Гусев, О. К., Тявловский, К. Л., Воробей, Р. И., Свистун, А. И., Шадурская, Л. И.
Фотоприемники на основе собственных полупроводников для построения измерительных преобразователей, [Текст]
ил.
Метрология и приборостроение, 2017, № 2. - С. 32-40
