Моделирование уровней размерного квантования Si-нанокристаллов в матрице SiO[2]: подбор параметров эмпирического метода сильной связи
Белолипецкий, А. В., Нестоклон, М. О., Яссиевич, И. Н.
Моделирование уровней размерного квантования Si-нанокристаллов в матрице SiO[2]: подбор параметров эмпирического метода сильной связи, [Электронный ресурс]
ил., табл.
Физика и техника полупроводников, 2018, Т. 52, вып. 10. - С. 1145-1149
Белолипецкий_моделирование
