Электронно-микроскопические исследования образования структурных дефектов в ZnS при облучении электронами с энергией 400 keV
Логинов, Ю. Ю., Брильков, А. В., Мозжерин, А. В.
Электронно-микроскопические исследования образования структурных дефектов в ZnS при облучении электронами с энергией 400 keV, [Электронный ресурс]
ил.
// Физика твердого тела .-
2016 .-
Т. 58, вып. 12. - С. 2380-2383 .-
Логинов_электронно-микроскопические
