Кристаллические дефекты в фотопреобразователях, полученных методом термомиграции
Лозовский, В. Н., Ломов, А. А., Лунин, Л. С., Середин, Б. М., Чесноков, Ю. М.
Кристаллические дефекты в фотопреобразователях, полученных методом термомиграции, [Электронный ресурс]
ил.
Физика и техника полупроводников, 2017, Т. 51, вып. 3. - С. 297-301
Лозовский_кристаллические