-
Определение примесей в стеклах системы TeO[2]-WO[3] для волоконной оптики химико-атомно-эмиссионным методом
Липатова, М. М., Пименов, В. Г.
Определение примесей в стеклах системы TeO[2]-WO[3] для волоконной оптики химико-атомно-эмиссионным методом, [Текст]
Неорганические материалы, 2010, Т.46, № 3.- С. 379-382
-
Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Евдокимов, И. И., Пименов, В. Г., Фадеева, Д. А.
Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой, [[Текст]], И. И. Евдокимов, В. Г. Пименов, Д. А. Фадеева
7 табл., 6 рис.
// Журнал аналитической химии .-
2018 .-
Т. 73, № 4. - С. 253-263 .-
-
Получение высокочистой шихты дл варки стекол системы TeO2-ZnO
Моисеев, А. Н., Дорофеев, В. В., Чилясов, А. В., Кутьин, А. М., Пименов, В. Г., Плотниченко, В. Г., Колташев, В. В.
Получение высокочистой шихты дл варки стекол системы TeO2-ZnO, [Текст]
Ил.7
-
Глубокая очистка моноизотопной серы {32}S и {34}S
Суханов, М. В., Сторожева, Т. И., Евдокимов, И. И., Пименов, В. Г., Созин, А. Ю., Котерева, Т. В.
Глубокая очистка моноизотопной серы {32}S и {34}S, [[Текст]], М. В. Суханов [и др.]
3 табл., 3 рис.
// Неорганические материалы .-
2017 .-
Т. 53, № 2. - С. 126-131 .-
-
Оценка межлабораторных и межметодных расхождений при аттестации состава твердых высокочистых простых веществ и наноматериалов
Ковалев, И. Д., Карпов, Ю. А., Потапов, А. М., Пименов, В. Г., Малышев, К. К., Лазукина, О. П., Волкова, Е. Н., Чурбанов, М. Ф.
Оценка межлабораторных и межметодных расхождений при аттестации состава твердых высокочистых простых веществ и наноматериалов, [Текст]
ил., табл.
Неорганические материалы, 2013, Т. 49, № 4. - С. 381-388
