Метод экспресс-анализа триэтоксисилана, В. М. Ротштейн, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров// Журнал прикладной спектроскопии .-2021 .-Т. 88, № 4. - С. 550-555 .-
Анализ пористого нанокремния на основе спектроскопии комбинационного рассеяния света, В. М. Ротштейн, Т. К. Турдалиев, Х. Б. Ашуров// Журнал прикладной спектроскопии .-2022 .-Т. 89, № 1. - С. 51-56 .-