Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями
Хашим, Х., Сингх, С. П., Панина, Л. В., Пудонин, Ф. А., Шерстнев, И. А., Подгорная, С. В., Шпетный, И. А., Беклемишева, А. В.
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями, [Электронный ресурс]
ил.
// Физика твердого тела .-
2017 .-
Т. 59, вып. 11. - С. 2191-2195 .-
Хашим_применение
