| Индекс УДК | 539.21 |
|
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями Электронный ресурс |
|
| Ключевые слова | пленки |
| Другие авторы | Сингх, С. П. |
| Название источника | Физика твердого тела |
| Место и дата издания | 2017 |
| Прочая информация | Т. 59, вып. 11. - С. 2191-2195 |
| Имя макрообъекта | Хашим_применение |
